Oddelenie návrhu a diagnostiky číslicových systémov

Institute of Informatics
 

Projekty 


  • VEGA 2/0135/08: Spoľahlivostné architektúry a testovateľnosť digitálnych systémov, 2008-2010.
  • APVV LPP-0021-06: Mikroelektronika v sieti stredoškolského vzdelávania - MikroN - vytvorenie stredoškolskej siete mini-centier pre návrh digitálnych obvodov za pomoci profesionálnych návrhových prostriedkov pre integrované obvody FPGA, 2006-2009.
  • VEGA 2/5123/25: Metódy a algoritmy optimalizácie testovania digitálnych systémov na čipe, 2005-2007.
  • VEGA 2/2066/22: Návrh testovateľných číslicových jadier implementujúcich algoritmy pre kryptovanie a dekryptovanie údajov, 2002-2004.
  • VEGA 6091/99: Behavioral and Real Defect Oriented Test Generation for Digital Circuits and Systems, 1999-2000. 
  • VEGA 1/4294: Advanced Approaches towards Integrated Circuit and System Design, 1997-1999.
  • VEGA 2/3041: Advanced Test Pattern Generation Algorithms for Diagnosis of Digital Structures, 1996-1998. 
  • Projekt slovensko-poľskej medziakademickej dohody: Návrh digitálnych systémov a ich testovateľnosť (Ústav informatiky SAV a Ústav mikroelektroniky a optoelektroniky, Varšavská technická univerzita), 2007-2009.
  • Projekt slovensko-talianskej medzivládnej vedecko-technickej spolupráce: Testovatelné a rekonfigurovatelné digitálne jadrá (Ústav informatiky SAV a Politecnico di Torino), 2004-2007.
  • IST-2000-30193 - REASON: Research and Training Action for System on Chip Design, 2000-2005.
  • INCO COPERNICUS CP977133 - VILAB: Microelectronics Virtual Laboratory for Co-operating in Research and Knowledge Transfer, 1998-2001. 
  • COPERNICUS C994 0391 - UBISTA: Unified Built in Self Test Approach for Full Detect Testing in Mixed Signal Devices, 1995-1998. 
  • ESPRIT 6575 - ATSEC: Advanced Test Generation and Testable Design Methodology for Sequential Circuits, 1994-1995. 
  • COPERNICUS CP0536 - BENEFIT: Concerted Action for Stimulation of East-West Collaborations in the Areas of Microlectronics and Signal Processing, 1994-1996.
  • COPERNICUS CP9624 - FUTEG: Functional Test Generation and Diagnosis, 1994-1997. 
  • PECO 7668 - EEMCN: East European Microelectronics Co-operation Network of Support and Competence Centres of Central and Eastern European Countries, 1993-1996.