E. Aas - Norw. U. of Science, N
B. Al-Hashimi - U. Southhampton, UK
M. Balakrishnan - IIT Delhi, IND
J. Becker - TU. Karlsruhe, D
G. Carlsson - Ericsson, S
S. Chakravarty - Intel, USA
R. Drechsler - Siemens, D
J. Figueras - U. Polit. de Catalunya, E
N. Fristacky - Slovak U. of Tech., SK
M. Glesner - TU Darmstadt, D
A. Handkiewicz - TU Poznan, PL
R. Hartenstein - U. Kaiserslautern, D
S. Hellebrand - U. Innsbruck, A
A. Hlawiczka - Silesian U. of Tech., PL
E. Hrynkiewicz - Silesian U. of Tech., PL
L. Jozwiak - U. Eindhoven, NL
Z. Kotasek - TU Brno, CZ
A. Krasniewski - TU Warsaw, PL
E. K. Kuchcinski - U. Lund, S
C. Landrault - LIRMM, F
E. Larsson - U. Linkoping, S
H. Manhaeve - Q-Star Test, B
E.J. Marinissen - Philips Research, NL
N. Mukherjee - Mentor Graphics, USA
F. Novak - Jozef Stefan Inst., SLO
O. Novak - TU Liberec, CZ
A. Pataricza - TU Budapest, H
A. Pawlak - Silesian U.of Tech., PL
S.J. Piestrak - TU Wroclaw, PL
W. Pleskacz - TU Warsaw, PL
P. Prinetto - Politecnico di Torino, I
M. Renovell - LIRMM, F
B. Rouzeyre - LIRMM, F
J. Segura - U. Illes Balears, E
O. Sentieys - U. de Rennes, F
M. Sonza Reorda - Politechnico di Torino, I
J. Sosnowski - TU Warsaw, PL
A. Steininger - TU Vienna, A
V. Stopjakova - Slovak U. of Tech., SK
B. Straube - EAS/IIS FhG, D
J.P. Texeira - IST/INESC, P
J. Tyszer - TU Poznan, PL
R. Ubar - TU Tallinn, EST
K. Vlcek - TU Ostrava, CZ
H.-J. Wunderlich - U. Stuttgart, D
Y. Zorian - Virage Logic, USA